Sendira紅外光譜橢偏儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
SENDIRA紅外光譜橢偏儀振動(dòng)光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR

Name: Sendira紅外光譜橢偏儀
Availability: InStock

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2025-10-27

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商

訪問(wèn)量：1184

產(chǎn)品咨詢(xún) 18600717106

產(chǎn)品分類(lèi)

技術(shù)文章

顯微成像橢偏儀：結(jié)合了橢偏技術(shù)與光學(xué)顯微成像技術(shù)的高精度儀器

顯微成像橢偏儀結(jié)合了橢偏技術(shù)與光學(xué)顯微成像技術(shù)

深入了解下行星球磨儀的運(yùn)行原理

膜厚測(cè)試千里眼，選區(qū)觀測(cè)1µm - 市面上的高分辨率顯微成像橢偏技術(shù)

詳細(xì)介紹在線留言

SENDIRA紅外光譜橢偏儀振動(dòng)光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR。測(cè)量紅外分子振動(dòng)模的吸收譜帶，分析長(zhǎng)分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測(cè)量導(dǎo)電膜的電荷載流子濃度。

光譜橢偏儀SENDIRA用于測(cè)量薄膜厚度，折射率，消光系數(shù)以及體材料，單層和多層堆疊膜的相關(guān)特性。特別是覆蓋層下面的層在可見(jiàn)范圍內(nèi)是不透明的，現(xiàn)在也可以進(jìn)行測(cè)量。同時(shí)可以分析材料的組成和大分子基團(tuán)和分子鏈的走向。

上一個(gè)：PSEL勞厄衍射系統(tǒng)